低溫拉伸試驗(yàn)裝置試驗(yàn)取樣方法

發(fā)布日期：2014-01-10      瀏覽次數(shù)：1751

低溫拉伸試驗(yàn)裝置試驗(yàn)取樣方法
1、低溫拉伸試驗(yàn)裝置取樣：每個(gè)被試線芯應(yīng)取兩根適當(dāng)長(zhǎng)度的試樣。
2、低溫拉伸試驗(yàn)裝置試樣制備：所有護(hù)層（包括外半導(dǎo)電層，若有的話）剝?nèi)ズ螅剌S向切開絕緣；然后取出導(dǎo)體和內(nèi)半導(dǎo)電層（若有的話）。
3、絕緣試條應(yīng)磨平或削平，以獲得下面所述的兩個(gè)記線之間光滑平等的表面，磨平時(shí)注意避免過熱。切削機(jī)示例參見GB/T 2951.1—1997的附錄A，聚乙烯(PE)和聚丙烯(PP)絕緣只能削平，不能磨平。磨平或削平后絕緣試條的厚度應(yīng)不小于0.8mm；不大于2.0mm。如果從原始試樣上不能獲得0.8mm厚度的試條，則允許zui小厚度為0.6mm。
4、所有試條應(yīng)在環(huán)境溫度下處理至少16h。然后，沿著每根試條的軸向沖切出所需的啞鈴試件。如有可能，應(yīng)并排沖切兩個(gè)啞鈴試件。
5、對(duì)于扇形線芯，應(yīng)在絕緣線芯的“背部”切取啞鈴試件。
6、如果試驗(yàn)時(shí)能直接測(cè)量標(biāo)記線之間的距離，則應(yīng)按GB/T 2951.11—2008第9.1.3a的zui后一段規(guī)定，在啞鈴試件上標(biāo)出標(biāo)記線。

 

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